日本理學波長色散XRF
德國蔡司掃描電鏡
蔡司工業CT與三維掃描儀
德國斯派克能量色散XRF
德國斯派克直讀光譜儀
德國斯派克ICP
絕緣電阻測試系統
物理材料實驗室設備
標準樣品
-
日本理學同步熱分析儀DSC8231-華普通用
日本理學同步熱分析儀DSC8231測量體重變化和吸熱或放熱反應 -
日本理學差示掃描量熱儀DSC8231-華普通用
差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉變、結晶和玻璃化轉變溫度等反應中的能量變化，主要用于研發;以及聚合物、制藥領域的質量控制。 -
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀-華普通用
Raytek? Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設計用于滿足眾多工業應用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發電廠運行的苛刻的高溫環境。 -
福祿克Raytek? MP150 高速線掃描紅外測溫儀-華普通用
雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業環境中使用，并可以測得運動物體的準確溫度圖像。 -
福祿克ThermoView TV40 工業固定式熱成像系統-華普通用
全天候監控您的工藝、產品和生產現場 -
功率器件動態參數測試系統DT10-華普通用
專業測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態時間參數特性，測試范圍可達3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀-華普通用
使用 4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領先電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓 -
TSI POWERSIGHT固體激光器的激光多普勒測速儀LDV-華普通用
TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測速（LDV）系統，包含 新型的PowerSight固態激光器，絕對讓您耳目一新。該款全新增強型系統整合了PowerSight模塊，該模組由最新型固態激光器 -
Chroma Model3650 SoC測試系統-華普通用
Chroma 3650可在一個測試頭中，提供最多512 個數位通道，并具備高產能的平行測試功能， 最高可同時測試32 個待測晶片，以提升量產效能。 -
BUCHI Pure 制備色譜系統-華普通用
Pure色譜儀非常的緊湊，確保最高水平的安全性并且易于應用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。 -
檔案掃描美化系統-華普通用
本系統為圖像處理系統，可將文檔上的黑色裝訂孔以及黑邊等自動處理 -
福祿克Raytek? Compact MI3 紅外測溫探頭/高溫計-華普通用
雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續非接觸式溫度監測的新一代的性能和創新，并廣泛應用于OEM應用和制造工藝中。